万年結奈さん、島田華奈さん、卒業生の谷口智郷さんの論文がJournal of Crystal Growthに掲載されました。タイトルは、”Stability of multiple Shockley type basal plane stacking faults in heavily nitrogen-doped 4H-SiC crystals”です。

https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2018.06.029