卒業生の島田華奈さんの論文がJournal of Applied Physicsに掲載されました（浅田幹太君、淀美香子さんが共著者です）。タイトルは、”Raman scattering microscopy imaging of basal plane stacking faults and associated partial dislocations in 4H-SiC crystals”です。この論文は、Journal of Applied PhysicsのFeatured Articleに選出されました！
