当研究室の島田華奈さん、品川直登さん、横本海斗さんがドイツ・ベルリンで開催された18th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP XVIII) にて論文発表してきました。
当研究室の島田華奈さん、品川直登さん、横本海斗さんがドイツ・ベルリンで開催された18th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP XVIII) にて論文発表してきました。
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